JFEテクノリサーチ/最新型の電子顕微鏡導入/材料解析受託事業を強化
JFEテクノリサーチ(社長・松岡才二氏)は、金属などの表層部を解析するための「極低加速電圧走査電子顕微鏡(ULV―SEM)」の最新機種を知多地区(愛知県半田市)に導入した。中部・関西地区の自動車メーカーや重工メーカー向けの材料解析受託事業を強化する狙いだ。 ULV―SEMは、一般的な電子顕微鏡と異なり、試料表面からの深さが数ナノメートルとい...
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