ＪＦＥテクノリサーチ（社長・花澤和浩氏）は２７日、全固体電池や半導体向けの材料分析・評価事業を強化するため、３次元Ｘ線顕微鏡の最新機種を新設したと発表した。導入は国内初。材料の内部構造を非破壊で詳細に観察できる特長があり、今月から受託分析サービスを開始した。電池メーカーや材料メーカーの試験需要を取り込み、電池・半導体の性能や信頼性向上に寄与...