高速通信規格「５Ｇ」の活況が続く中、電子部品の表面の膜厚を高精度に割り出せるＪＦＥテクノリサーチ（社長・松岡才二氏）の測定装置に注目が集まっている。半導体やフィルムなどの企業から、製品の歩留まりや品質向上に活用したいと引き合いが増え、受注台数が伸びている。短時間に計測・可視化できるのが特徴で、２０２１年度は販売台数の倍増を目指す。　好調なの...