ＪＦＥテクノリサーチ（社長・松岡才二氏）は、金属などの表層部を解析するための「極低加速電圧走査電子顕微鏡（ＵＬＶ―ＳＥＭ）」の最新機種１台を千葉地区（千葉市）に導入した。関東地区の自動車メーカーや重工メーカー向けの材料解析受託事業を強化する狙いだ。